寒川诚二:Atomic layer defect-free top-down processing for future nano-devices

8月22日10:30,行政楼912

发布者:周科亮发布时间:2018-08-20浏览次数:301

报告内容:Atomic layer defect-free top-down processing for future nano-devices

报告人:寒川诚二

报告时间:2018年 8月 22日(周三) 10:30

报告地点:行政楼912



报告人简介:

寒川诚二,日本人,任职于东北大学,流体科学研究所,绿色纳米实验室教授,博士毕业于庆应义塾大学,曾在日本电气株式会社(NEC)工作。寒川教授课题组主要从事等离子体物理、微纳电子加工及半导体器件材料的相关研究,其独有的中性粒子束刻蚀技术在国际上有相当的影响力。近年来发表论文259篇,其中很多发表于Nature Communications,Carbon,Physical review,Applied Physics Letters,Nanotechnology等高水平期刊。另主编、联合编写著作24部,内容主要涉及半导体加工的物理、化学原理等。寒川教授活跃于日本应用物理学会和电气学会,在等离子体、电子加工相关分会担任职务,日本在低温等离子体及微电子加工领域处于世界领先水平,因此其学会相关分会在国际上具有很大的专业影响力。同时寒川教授在美国物理学会下,真空学会一直担任职务,该学会下属期刊真空《Vacuum》等在工学期刊中属于有影响力的刊物。

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